[发明专利]一种泛电子领域自动光学检测设备的标定方法在审

专利信息
申请号: 202210186779.5 申请日: 2022-02-28
公开(公告)号: CN114519747A 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 王飞;王志超;董杰楚;佘敏敏;刘草;杨阳 申请(专利权)人: 嘉兴市像景智能装备有限公司
主分类号: G06T7/80 分类号: G06T7/80;G06T7/70
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 314500 浙江省嘉兴*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 泛电子领域自动光学检测设备的标定一般采用Z轴锁定的标定方法,由于轨道平面存在装配误差,无法保证其与相机的焦平面完全平行,因此该标定方法存在Z方向误差,导致整个标定范围内相机的分辨率不一致,降低了设备的检测精度。本发明提出了一种通过Z轴自适应调整的标定方法。首先标定相机的内参,然后将相机移动到指定位置拍照并计算该位置的外参、工作距离和分辨率,通过PID控制调整Z轴位置,来保证该位置的实际分辨率与期望分辨率近似。后续检测定位中,若检测位置在标定的位置,使用标定位置的外参进行坐标映射;若不在标定的位置,使用插值的方式计算出该坐标位置的外参。本发明保证了检测系统中分辨率的一致性,提升了检测精度。
搜索关键词: 一种 电子 领域 自动 光学 检测 设备 标定 方法
【主权项】:
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