[发明专利]一种泛电子领域自动光学检测设备的标定方法在审
申请号: | 202210186779.5 | 申请日: | 2022-02-28 |
公开(公告)号: | CN114519747A | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 王飞;王志超;董杰楚;佘敏敏;刘草;杨阳 | 申请(专利权)人: | 嘉兴市像景智能装备有限公司 |
主分类号: | G06T7/80 | 分类号: | G06T7/80;G06T7/70 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 314500 浙江省嘉兴*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 泛电子领域自动光学检测设备的标定一般采用Z轴锁定的标定方法,由于轨道平面存在装配误差,无法保证其与相机的焦平面完全平行,因此该标定方法存在Z方向误差,导致整个标定范围内相机的分辨率不一致,降低了设备的检测精度。本发明提出了一种通过Z轴自适应调整的标定方法。首先标定相机的内参,然后将相机移动到指定位置拍照并计算该位置的外参、工作距离和分辨率,通过PID控制调整Z轴位置,来保证该位置的实际分辨率与期望分辨率近似。后续检测定位中,若检测位置在标定的位置,使用标定位置的外参进行坐标映射;若不在标定的位置,使用插值的方式计算出该坐标位置的外参。本发明保证了检测系统中分辨率的一致性,提升了检测精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子 领域 自动 光学 检测 设备 标定 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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