[发明专利]一种NiGe/n-Ge肖特基二极管的制备方法在审

专利信息
申请号: 202210185094.9 申请日: 2022-02-28
公开(公告)号: CN114678272A 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 张波;丁华俊;薛忠营;魏星 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L29/872;H01L29/47
代理公司: 上海泰博知识产权代理有限公司 31451 代理人: 谢文凯
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种NiGe/n‑Ge肖特基二极管的制备方法。该方法包括:将Ge片作为衬底,预处理;然后Ge片上长隔离层,光刻出图形,再经过一次光刻;依次蒸镀Al和Ni,然后去除不在图形内的金属;退火,再去除多余的Ni,蒸镀正反电极。该方法可以有效缓解费米能级钉扎效应,降低NiGe/n‑Ge肖特基势垒高度,并且使得NiGe在400℃到600℃保持热稳定性。
搜索关键词: 一种 nige ge 肖特基 二极管 制备 方法
【主权项】:
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