[发明专利]3维测量装置及3维测量方法在审

专利信息
申请号: 202210180777.5 申请日: 2022-02-25
公开(公告)号: CN114964049A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 佐野孝浩;山田友美 申请(专利权)人: JUKI株式会社
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 抑制3维测量的可靠性的降低。3维测量装置具有:投影控制部,其对投影装置进行控制,以使得相位相互不同的多个种类的正弦波状的明度分布的条纹图案向物体投影;拍摄次数决定部,其决定在1种条纹图案的投影中取得的物体的基础图像的取得次数;拍摄控制部,其对拍摄装置进行控制,以使得在多个种类的条纹图案各自的投影中以取得次数取得基础图像;合成图像生成部,其将取得次数的基础图像进行合成,生成与多个种类的条纹图案各自相对应的多个合成图像;以及3维形状计算部,其基于多个合成图像,对物体的3维形状进行计算。
搜索关键词: 测量 装置 测量方法
【主权项】:
暂无信息
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