[发明专利]3维测量装置及3维测量方法在审
申请号: | 202210180777.5 | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN114964049A | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 佐野孝浩;山田友美 | 申请(专利权)人: | JUKI株式会社 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种3维测量装置,其具有:
投影控制部,其对投影装置进行控制,以使得相位相互不同的多个种类的正弦波状的明度分布的条纹图案向物体投影;
拍摄次数决定部,其决定在1种所述条纹图案的投影中取得的所述物体的基础图像的取得次数;
拍摄控制部,其对拍摄装置进行控制,以使得在多个种类的所述条纹图案各自的投影中以所述取得次数取得所述基础图像;
合成图像生成部,其将所述取得次数的所述基础图像进行合成,生成与多个种类的所述条纹图案各自相对应的多个合成图像;以及
3维形状计算部,其基于多个所述合成图像,对所述物体的3维形状进行计算。
2.根据权利要求1所述的3维测量装置,其中,
所述拍摄次数决定部以所述合成图像的像素的亮度值大于或等于预先确定的阈值的方式决定所述取得次数。
3.根据权利要求2所述的3维测量装置,其中,
具有参数计算部,该参数计算部基于在多个种类的所述条纹图案各自的投影中取得的所述基础图像的像素的亮度值,针对所述基础图像的每个像素对正弦波的参数进行计算,
所述拍摄次数决定部基于所述参数而决定所述取得次数。
4.根据权利要求3所述的3维测量装置,其中,
所述参数包含所述正弦波的对比度,
所述阈值大于所述对比度的2倍的值。
5.根据权利要求4所述的3维测量装置,其中,
所述拍摄次数决定部以在所述合成图像的像素的亮度值大于所述对比度的2倍的值的条件下所述取得次数成为最小的方式决定所述取得次数。
6.一种3维测量方法,其包含:
将相位相互不同的多个种类的正弦波状的明度分布的条纹图案向物体投影;
决定在1种所述条纹图案的投影中取得的所述物体的基础图像的取得次数;
在多个种类的所述条纹图案各自的投影中以所述取得次数取得所述基础图像;
将所述取得次数的所述基础图像进行合成,生成与多个种类的所述条纹图案各自相对应的多个合成图像;以及
基于多个所述合成图像,对所述物体的3维形状进行计算。
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