[发明专利]存储芯片的测试方法和测试装置、电子设备在审
| 申请号： | 202210180217.X | 申请日： | 2022-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN114550801A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 宋标 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/44 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 姚姝娅 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例涉及一种存储芯片的测试方法和测试装置、电子设备。该方法包括：开启待测存储芯片中的存储单元；在存储单元中写入测试数据；从存储单元中读取与测试数据对应的存储数据；根据测试数据与存储数据，生成待测存储芯片的测试结果；其中，开启待测存储芯片中的存储单元时的字线开启电压大于存储单元的标准开启电压；和/或，存储单元的开启时间大于存储单元的标准开启时间。避免了在预设存储芯片中的存储单元中写入测试数据时，存储单元中存储的电荷不足进而影响电容电荷保存时间的测试，同时缩短了写入测试数据的时间，节约了测试成本，提高了存储芯片的良率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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