[发明专利]一种闪存颗粒的筛选方法和装置在审

专利信息
申请号: 202210153065.4 申请日: 2022-02-18
公开(公告)号: CN116469448A 公开(公告)日: 2023-07-21
发明(设计)人: 熊建林;张浩明;王龙;潘玉茜 申请(专利权)人: 武汉置富半导体技术有限公司
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08
代理公司: 北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448 代理人: 黄耀威
地址: 430073 湖北省武汉市东湖新技术开发区*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种闪存颗粒筛选方法和装置,其中方法包括:对各待测试的目标闪存颗粒进行第一预设温度测试和第二预设温度测试,获取各待测试闪存颗粒在第一预设温度下的各筛选参数的第一参数值,以及获取各目标闪存颗粒在第二预设温度下各筛选参数的第二参数值;基于各筛选参数以及筛选参数与评分权重值的对应关系,匹配获得与各筛选参数对应的评分权重值;至少基于各待测试闪存颗粒的各筛选参数的第一参数值、各筛选参数的第二参数值以及各所述筛选参数的评分权重值,计算获得各所述筛选参数的筛选评分值;基于各闪存颗粒的各筛选参数的筛选评分值,对各闪存颗粒进行筛选,以获得筛选结果。本申请中的闪存颗粒的筛选方法可以使筛选结果更加准确。
搜索关键词: 一种 闪存 颗粒 筛选 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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