[发明专利]一种闪存颗粒的筛选方法和装置

权利要求书

1.一种闪存颗粒筛选方法，其特征在于，包括：

对各待测试的目标闪存颗粒进行第一预设温度测试和第二预设温度测试，获取各所述待测试闪存颗粒在所述第一预设温度下的、各筛选参数的第一参数值，以及获取各所述目标闪存颗粒在所述第二预设温度下的、各所述筛选参数的第二参数值；

基于各所述筛选参数以及筛选参数与评分权重值的对应关系，匹配获得与各所述筛选参数对应的评分权重值；

至少基于各待测试闪存颗粒的各筛选参数的第一参数值、各筛选参数的第二参数值以及各所述筛选参数的评分权重值，计算获得各所述筛选参数的筛选评分值；

基于各所述闪存颗粒的各筛选参数的筛选评分值，对各所述闪存颗粒进行筛选，以获得筛选结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在对各待测试目标闪存颗粒进行第一预设温度测试和第二预设温度测试之前，所述方法还包括：获取各所述待测试目标闪存颗粒，具体包括：

在目标预设温度下对各初始闪存颗粒进行目标预设温度测试，获得各初始闪存颗粒在所述目标预设温度下的、各筛选参数的初始参数值；

基于各所述初始闪存颗粒的各筛选参数的初始参数值，对各所述初始闪存颗粒进行筛选，获得各所述待测试的目标闪存颗粒。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在目标预设温度下对各初始闪存颗粒进行目标预设温度测试，获得各初始闪存颗粒在所述目标预设温度下的、各筛选参数的初始参数值，具体包括：

在目标预设温度下对各初始闪存颗粒进行目标预设温度测试，获取各所述初始闪存颗粒的各基本参数初始参数值；

基于所述各基本参数的初始参数值，计算获取各筛选参数的初始参数值；

所述各基本参数包括如下任意一种或几种：错误比特数、块擦写时间和页编程时间；

所述筛选参数包括如下任意一种或几种：误码率、坏块数、剩余可用容量、平均块擦写时间和平均页编程时间。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一预设温度范围为：70℃≤第一预设温度≤85℃,所述第二预设温度范围为：-40℃≤第二预设温度≤-20℃。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述筛选参数以及筛选参数与评分权重值的对应关系，匹配获得与各所述筛选参数对应的评分权重值，所述方法还包括：建立所述筛选参数与评分权重值的对应关系，具体建立过程包括：

在目标预设温度下对各历史初始闪存颗粒进行目标预设温度测试，获得各历史初始闪存颗粒在所述目标预设温度下的、筛选参数的初始目标参数值；

基于所述各历史初始闪存颗粒的各筛选参数的初始目标参数值对所述历史初始闪存颗粒进行筛选，获取各历史闪存颗粒；

对各历史闪存颗粒进行第一预设温度测试和第二预设温度测试，获取各历史闪存颗粒在所述第一预设温度下的各筛选参数的第一目标参数值，以及获取各历史闪存颗粒在所述第二预设温度下的各筛选参数的第二目标参数值；

基于各历史闪存颗粒对应的各所述筛选参数的第一目标参数值和各历史闪存颗粒对应的所述各筛选参数的第二目标参数值，对各所述历史闪存颗粒进行分级，获取不同等级下的若干历史待测试闪存颗粒；

基于所述不同等级下的若干历史待测试闪存颗粒，制作成成品进行测试，获取与各所述筛选参数对应的评分权重值，建立所述筛选参数与评分权重值对应关系。