[发明专利]X射线衍射测定装置及方法在审
| 申请号： | 202210106427.4 | 申请日： | 2022-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN115144422A | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 桑原润史;佐藤健児;玉井敦 | 申请（专利权）人： | 本田技研工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/2055 | 分类号： | G01N23/2055 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国;吴启超 |
| 地址： | 日本东*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为了解决本发明的问题，提供一种X射线衍射测定装置，包括：直线状的第1狭缝(24a)、第2狭缝(24b)、第3狭缝(24c)，在基于由位于入射光轴(30)与出射光轴(32a,32b,32c)的交叉位置(34)的被测定物(M)产生的X射线衍射，来测定被测定物的特性时，使X射线通过，并以相对于出射光轴的轴旋转方向倾斜的方式配置；第1二维检测器(18a)、第2二维检测器(18b)，在检测区域内检测狭缝的通过X射线；及，轮廓计算部(44)，区分由二维检测器检测出的通过X射线，而分别计算出表示该通过X射线的强度的衍射轮廓；由此对于衍射角不同的多种材料，可以同时获得与它们的特性相关的测定结果。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 衍射 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
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