[发明专利]一种去耦电容优化选择方法、系统在审

专利信息
申请号: 202210084293.0 申请日: 2022-01-20
公开(公告)号: CN114564909A 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 张子钰;叶峰;陈代英;柴忠勇 申请(专利权)人: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
主分类号: G06F30/392 分类号: G06F30/392;G06F30/398;G06F115/12
代理公司: 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594 代理人: 张迎新
地址: 100070 北京市丰台区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种去耦电容优化选择方法、系统,无需每次根据仿真结果进行调整,而是根据优化选择策略,直接定量选择所有的去耦电容,在选取的过程中直接达到优化目标,无需选取后再进行优化,整体计算量较小,且易于量化;结合PDN阻抗曲线的频域特性,通过分析计算,定量选择相应的去耦电容,通过对电路板的谐振特性进行仿真分析,确定去耦电容参数及电容在PCB板上的布局规则和位置分布,利用较少的电容数量达到理想的去耦效果。本发明优化选择方法可以根据PDN阻抗特性,定量的选择去耦电容,将去耦电容的数量控制在最小范围内,去耦效果达到理想的状态,同时,优化板上布局、减小分布参数对PDN性能的影响,节约电路板空间和工程成本。
搜索关键词: 一种 电容 优化 选择 方法 系统
【主权项】:
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