[发明专利]一种用于半导体零件检测的自动检测装置及其使用方法在审
| 申请号: | 202210069523.6 | 申请日: | 2022-01-21 |
| 公开(公告)号: | CN114166636A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 阮庆贤 |
| 主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/30;G01N3/04;G01M7/08;G01M13/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 524000 广东省湛*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种用于半导体零件检测的自动检测装置及其使用方法,属于半导体技术领域。一种用于半导体零件检测的自动检测装置,包括安装架,所述安装架上固定有两个矩形平台,所述矩形平台开有半圆形凹槽,所述半圆形凹槽边缘位置安装有若干第一齿轮,所述第一齿轮呈弧形设置,所述第一齿轮啮合转盘,所述半圆形凹槽边缘位置的矩形平台上周向分布有四个检测器,所述矩形平台还上下对称安装有伸缩杆,两个所述矩形平台之间安装有输送器,所述转盘左右侧均设有一对感应器。该装置能够为半导体零件进行挤压测试以及旋转碰撞测试,实现机械自动检测和放料的半自动过程,方便流水线上的产品能够不间断快速检测封装。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 半导体 零件 检测 自动检测 装置 及其 使用方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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