[发明专利]一种用于半导体零件检测的自动检测装置及其使用方法在审

专利信息
申请号: 202210069523.6 申请日: 2022-01-21
公开(公告)号: CN114166636A 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 阮庆贤
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/30;G01N3/04;G01M7/08;G01M13/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 524000 广东省湛*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种用于半导体零件检测的自动检测装置及其使用方法,属于半导体技术领域。一种用于半导体零件检测的自动检测装置,包括安装架,所述安装架上固定有两个矩形平台,所述矩形平台开有半圆形凹槽,所述半圆形凹槽边缘位置安装有若干第一齿轮,所述第一齿轮呈弧形设置,所述第一齿轮啮合转盘,所述半圆形凹槽边缘位置的矩形平台上周向分布有四个检测器,所述矩形平台还上下对称安装有伸缩杆,两个所述矩形平台之间安装有输送器,所述转盘左右侧均设有一对感应器。该装置能够为半导体零件进行挤压测试以及旋转碰撞测试,实现机械自动检测和放料的半自动过程,方便流水线上的产品能够不间断快速检测封装。
搜索关键词: 一种 用于 半导体 零件 检测 自动检测 装置 及其 使用方法
【主权项】:
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