[发明专利]材料宽谱吸收特性测量装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 202210038701.9 申请日: 2022-01-13
公开(公告)号: CN114428057A 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 邵建达;倪开灶;刘世杰;李岚清;杨为香 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/39
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种材料宽谱吸收特性测量装置和测量方法,该装置包括宽谱泵浦光路和探测光路。本发明采用常用的高功率宽谱照明光源实现材料在宽波段范围内的吸收光谱直接测量,显著降低成本。解决了泵浦光束聚焦后光斑中心空洞的问题。基于声光调制,并通过光束调控获得强单色泵浦光,提高了光源使用效率,增强了探测信号强度,提升了系统的吸收测量灵敏度和信噪比。
搜索关键词: 材料 吸收 特性 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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