[发明专利]双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法在审
| 申请号： | 202210032683.3 | 申请日： | 2022-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN114563756A | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 唐作栋 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十研究所 |
| 主分类号： | G01S3/14 | 分类号： | G01S3/14;G06F17/16 |
| 代理公司： | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人： | 郭纯武 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法，测向准确度高、测向速度快。本发明通过下述技术方案实现：基于双通道测向接收机采集到的IQ信号，计算参考天线单元与其他各天线单元接收到的IQ信号之间的相位差，根据计算出的相位差，组成测向矢量；根据相位差之间的计算关系，计算出全相位差样本，并构成测向体制下的测向矢量和目标函数模型，通过线性插值，组成一个完整的测向样本数据库；根据测向矢量的频率，读取测向样本数据库相应频点的相位差数据矩阵，将测得的测向矢量与读取出的相位差数据矩阵进行相关计算，相关值最大处作为方向的估计值。本发明解决了现有技术收数复测、建立相位差样本库效率低下的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 双通道 相关 干涉仪 测向 样本 线性插值 方法 | ||
【主权项】：
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