[发明专利]双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法

权利要求书

1.一种双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法，其特征在于，包括以下步骤：

基于双通道测向接收机记录的中频输出信号，通过每个通道打通不同的天线，记录同时采集到的IQ信号，计算参考天线单元与其他各天线单元接收到的IQ信号之间的相位差，根据计算出的相位差，推算出其他各天线单元之间的相位差，组成测向矢量；对基于相关干涉仪测向原理采样建立的样本数据进行相关运算和插值计算，获取来波到达角，根据相位差之间的计算关系，计算出全相位差样本，并构成测向体制下的测向矢量和目标函数模型；通过线性插值，对前后两个频点的相位差数据矩阵，各赋上相应的权值，拓展测向样本数据库，组成一个完整的测向样本数据库；根据测向矢量的频率，读取测向样本数据库与测向矢量相对应频点的相位差数据矩阵，将上述组成的测向矢量和测向样本数据库中的样本进行相关计算，相关值最大处作为方向的估计值。

2.如权利要求1所述的双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法，其特征在于：标函数模型提取样本数据库中的相位差数据矩阵，读取测向样本库数据的开始频率为20MHz，截止频率为3000MHz，步进频率为10MHz，步进角度为5°的样本数据，组成的数据结构为36*72*298。

3.如权利要求1所述的双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法，其特征在于：目标函数模型通过线性插值，对前后两个频点的相位差数据矩阵，各赋0.5的权值，插值计算出中间频点的相位差数据矩阵，插值后的数据结构为36*72*596。

4.如权利要求1所述的双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法，其特征在于：目标函数模型根据来波方向每个入射角φ’和每个到达角φ’，分别计算出相位差v的正弦值和余弦值，以及来波方向每个角度对应频点相位差样本值的正弦值和余弦值，得到相位差v合成测向矢量V和与V对应频点入射角φ每个角度相位差样本值的入射角测向矢量φ：

Φ＝[sin(Φ’_0-1)，cos(Φ’_0-1)，…，sin(Φ′_7-8)，cos(Φ′_7-8)]。

5.如权利要求4所述的双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法，其特征在于：目标函数模型根据相关计算，估计来波方向最大处的相关值，得到来波方向相关值最大处的估计值C：

其中，T表示转置。

6.如权利要求1所述的双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法，其特征在于：双通道接收机采用多阵元天线收外界的无线电电波信号，捕获分析电波信号，经天线开关切换后，信号进入双通道接收机两个射频通道和两个接收通道，两个接收通道一个接通参考天线单元，另外一个通过测向天线选择开关的形式，接通其它测向天线单元，经过多次天线切换后，进行全方位测向，以分时工作方式将分时测向信号送入两路模数转换器ADC进行采样，将采集的信号变频为中频信号，计算出不同天线接收的信号的相位和相位差，最后进行相关干涉测向处理得到信号的方位角。

7.如权利要求1所述的双通道相关干涉仪测向样本线性插值方法，其特征在于：天线阵列由0到8号天线单元组成均匀圆阵，将通道1打通0号天线，采集的IQ数据为I₀₁、Q₀₁、I₀₂、Q₀₂…I_0n、Q_0n，同时将通道2打通1-8号天线，再将通道1打通1号天线，通道2打通8号天线，记录IQ数据为I₁₁、Q₁₁、I₁₂、Q₁₂…I_1n、Q_1n，I₈₁、Q₈₁、I₈₂、Q₈₂…I_8n、Q_8n，其中，n为IQ数据的个数。