[发明专利]使用互补开关的存储器内电阻式随机存取存储器XOR逻辑在审
申请号: | 202180082357.7 | 申请日: | 2021-10-25 |
公开(公告)号: | CN116601709A | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 安藤崇志;龚南博;G·M·科恩 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | G11C13/00 | 分类号: | G11C13/00;H10B63/00;H10N70/20 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王蕊瑞 |
地址: | 美国纽*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在使用或形成半导体结构的方法中。该半导体结构可包括具有第一电极和第二电极的电阻式随机存取存储器(RRAM)栅极。RRAM栅极还可包括开关层,该开关层包括具有开关层k值和开关层热导率的电介质材料。RRAM栅极还可包括互补开关(CS)缓解层,该CS缓解层具有低于开关层k值的CSk值和高于开关层热导率的CS热导率的材料。 | ||
搜索关键词: | 使用 互补 开关 存储器 电阻 随机存取存储器 xor 逻辑 | ||
【主权项】:
暂无信息
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