[实用新型]芯片供电的测试装置有效
| 申请号： | 202120485111.1 | 申请日： | 2021-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN215067091U | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 张腾;杨晓君;柳胜杰;孙瑛琪;李晶晶 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/36 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 孙峰芳 |
| 地址： | 300384 天津市南开区华苑产*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种芯片供电的测试装置，该测试装置包括：测试板基板以及位于测试板基板上的测试电路，所述测试电路包括多个测试通道以及多路拨码开关，其中每个测试通道连接于芯片供电单元输出的一路直流工作电压的正极和负极之间，且各测试通道经由多路拨码开关输入驱动信号，各测试通道分别用于测试一路直流工作电压的负载特性；所述多路拨码开关用于连接或断开各测试通道输入的驱动信号。本实用新型提供的测试装置能够有效提升负载的功耗以及变化速率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 供电 测试 装置 | ||
【主权项】：
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