[发明专利]一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法在审
| 申请号： | 202111617833.9 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN114353638A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 郑方园;韩刚;刘国军;郭建华;胡金涛;刘超;任丽媛;井坤 | 申请（专利权）人： | 东北轻合金有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B5/18 | 分类号： | G01B5/18 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 张换男 |
| 地址： | 150060 黑龙江*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法，涉及缺陷检测领域。本发明是为了解决目前的凹坑缺陷深度测量方法还存在无法测量位于圆形制品中心的缺陷深度问题，同时还存在单位时间内测量效率低、测量准确率低的问题，包括：将缺陷深度测量器归零后放置在待测圆形制品的缺陷处获得获取缺陷深度；所述缺陷深度测量器包括：V型铁、千分表；所述V型铁为一侧具有V型凹陷的矩形铁；所述V型铁上设置有通心安装孔，所述通心安装孔从V型铁凹陷处竖直穿透设置；所述通心安装孔内设置有千分表；所述待测圆形制品的直径大于通心安装孔的直径小于V型铁的长度。本发明用于测量圆形制品凹坑缺陷处的深度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 圆形 制品 表面 局部 缺陷 深度 测量方法 | ||
【主权项】：
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