[发明专利]一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法

权利要求书

1.一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：将缺陷深度测量器归零后放置在待测圆形制品上，然后圆形制品旋转并移动，当旋转至缺陷处缺陷深度测量器自动显示缺陷深度；

所述缺陷深度测量器包括：V型铁、千分表；

所述V型铁为一侧具有V型凹陷(2)的矩形铁；所述V型铁上设置有通心安装孔(1)，所述通心安装孔(1)从V型铁凹陷处竖直穿透设置；所述通心安装孔(1)内设置有千分表；所述待测圆形制品的直径大于通心安装孔(1)的直径小于V型铁的长度。

2.根据权利要求1所述的一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法，其特征在于：所述V型铁的长：高＝1.5：1；所述V型凹陷的宽度：深度＝2：1；所述V型铁的高度等于V型凹陷(2)的宽度。

3.根据权利要求2所述的一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法，其特征在于：所述通心安装孔(1)的直径大于千分表的直径。

4.根据权利要求3所述的一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法，其特征在于：所述千分表通过丝锥攻丝旋入通心安装孔(1)中。

5.根据权利要求4所述的一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法，其特征在于：所述将缺陷深度测量器归零为：在校准试料标样表面光滑无缺陷的位置将千分表归零。

6.根据权利要求5所述的一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法，其特征在于：所述圆形制品旋转为顺时针旋转。