[发明专利]一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法在审

专利信息
申请号: 202111617833.9 申请日: 2021-12-27
公开(公告)号: CN114353638A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 郑方园;韩刚;刘国军;郭建华;胡金涛;刘超;任丽媛;井坤 申请(专利权)人: 东北轻合金有限责任公司
主分类号: G01B5/18 分类号: G01B5/18
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张换男
地址: 150060 黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 圆形 制品 表面 局部 缺陷 深度 测量方法
【说明书】:

一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法,涉及缺陷检测领域。本发明是为了解决目前的凹坑缺陷深度测量方法还存在无法测量位于圆形制品中心的缺陷深度问题,同时还存在单位时间内测量效率低、测量准确率低的问题,包括:将缺陷深度测量器归零后放置在待测圆形制品的缺陷处获得获取缺陷深度;所述缺陷深度测量器包括:V型铁、千分表;所述V型铁为一侧具有V型凹陷的矩形铁;所述V型铁上设置有通心安装孔,所述通心安装孔从V型铁凹陷处竖直穿透设置;所述通心安装孔内设置有千分表;所述待测圆形制品的直径大于通心安装孔的直径小于V型铁的长度。本发明用于测量圆形制品凹坑缺陷处的深度。

技术领域

本发明涉及缺陷检测领域,特别涉及一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法。

背景技术

铝及铝合金、镁及镁合金圆形产品被广泛应用于民用及军用航空、航天、铁路、机械加工等领域,圆形制品表面局部缺陷的检测尤为重要。

目前主要采取将制品切断后进行测量,然后采用排除法利用经验检测其他制品,检查人员凭经验用千分尺或卡尺测量计算(流程图如图4所示),但此方法仅能测量靠近圆形制品两端的缺陷深度,无法测量圆形制品中心处缺陷的深度;同时由于采用切断的方式测量导致操作步骤复杂,进而造成单位时间内测量效率低的问题。由于目前利用经验进行检测其他制品,因此难以保证测量的准确率。

发明内容

本发明目的是为了解决目前的凹坑缺陷深度测量方法还存在无法测量位于圆形制品中心的缺陷深度问题,同时还存在单位时间内测量效率低、测量准确率低的问题,而提出了一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法。

一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法包括以下步骤:

将缺陷深度测量器归零后放置在待测圆形制品上,然后圆形制品旋转并移动,当旋转至缺陷处缺陷深度测量器自动显示缺陷深度;所述缺陷深度测量器包括:V型铁、千分表;

所述V型铁为一侧具有V型凹陷2的矩形铁;所述V型铁上设置有通心安装孔1,所述通心安装孔1从V型铁凹陷处竖直穿透设置;所述通心安装孔1内设置有千分表;所述待测圆形制品的直径大于通心安装孔1的直径小于V型铁的长度。

本发明的有益效果为:

本发明将千分表和V型铁结合测量圆形制品的缺陷深度,可以测量圆形制品任意位置的缺陷深度,同时有效解决了测量操作步骤复杂的问题,从而提升了单位时间内的测量效率。本发明在千分表基础上设计加工辅助配件,成本投入小,提升了测量效率,在检查工作任务重、要求高的状态下可高效完成多种规格圆形制品的测量工作。本发明直接采用缺陷深度测量器进行测量缺陷深度,无需将圆形制品割开测量,减少了材料的浪费,同时避免了利用经验估计缺陷深度,提升了测量的准确率。

附图说明

图1为V型铁正视图;

图2为V型铁俯视图;

图3本发明的流程图;

图4为现有技术中测量缺陷深度的流程图。

具体实施方式

具体实施方式一:本实施方式一种圆形制品表面局部凹坑缺陷深度的测量方法,包括以下步骤:将缺陷深度测量器归零后放置在待测圆形制品上,然后圆形制品旋转并移动,当旋转至缺陷处缺陷深度测量器自动显示缺陷深度,如图3;

所述缺陷深度测量器包括:V型铁(如图1-2)、千分表;

所述V型铁为一侧具有V型凹陷2的矩形铁;所述V型铁上设置有通心安装孔1,所述通心安装孔1从V型铁凹陷处竖直穿透设置;所述通心安装孔1内设置有千分表;所述待测圆形制品的直径大于通心安装孔1的直径小于V型铁的带有V型凹陷边的长度;

所述圆形制品旋转为顺时针旋转。

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