[发明专利]产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品在审
| 申请号： | 202111602331.9 | 申请日： | 2021-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN114463261A | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 吕承侃;商秀芹 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/62;G06V10/764;G06V10/774 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 吴刚 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品，方法包括：通过确定待测产品图像；并获取产品缺陷检测结果，输入所述待测产品图像至产品缺陷检测模型，得到所述产品缺陷检测模型输出的产品缺陷检测结果；其中，产品缺陷检测模型用于根据所述待测产品图像的特征图与目标特征映射中心的距离，对待测产品图像进行产品缺陷检测；所述产品缺陷检测模型是基于不同位置和/或角度的样本产品图像训练得到的。本发明用以解决现有技术中产品缺陷检测依赖人工，不仅提升了人力成本，并且效率和准确率也难以保证的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 产品 缺陷 检测 方法 电子设备 存储 介质 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院自动化研究所，未经中国科学院自动化研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111602331.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
