[发明专利]一种基于超声相控阵成像的缺陷分类方法及系统有效
| 申请号： | 202111593864.5 | 申请日： | 2021-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN114359193B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 白龙;许剑锋;刘楠欣;苏欣;赖复尧 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学;西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/12;G06V10/44;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/047;G06N3/048;G06N3/08;G06F30/23;G01N29/44;G01N29/06 |
| 代理公司： | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人： | 李君;廖盈春 |
| 地址： | 430074 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于超声相控阵成像的缺陷分类方法及系统，属于无损检测领域，方法包括：对待测样件采用超声相控阵成像获取超声全矩阵数据；对超声全矩阵数据进行全聚焦处理，根据信号幅值进行色彩编码，获取待测样件的图像；对待测样件的图像进行预处理后输入至分类预测模型中，获取待测样件的缺陷分类；训练分类预测模型的方法为：利用缺陷超声散射数据有限元仿真方法，通过仿真超声相控阵成像获取仿真数据；对仿真数据进行全聚焦处理后，获取仿真图像；对仿真图像预处理后进行数据增强；采用卷积神经网络对仿真图像进行图像特征提取；将图像特征输入至全连接层，以缺陷分类为输出训练分类预测模型。本发明提升了缺陷分类的精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 超声 相控阵 成像 缺陷 分类 方法 系统 | ||
【主权项】：
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