[发明专利]基于ATE设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统有效
| 申请号： | 202111471138.6 | 申请日： | 2021-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN114356820B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 邬刚;凌云 | 申请（专利权）人： | 杭州加速科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F13/40 | 分类号： | G06F13/40;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486 | 代理人： | 李兴生 |
| 地址： | 311100 浙江省杭州市余杭区余杭街*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于ATE设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统。加速方法包括：选定引脚电路芯片并进行配置；引脚电路芯片采集待测芯片反馈的测试数据；在预设时间间隔，每块业务板上的FPGA并行读取该业务板上所有引脚电路芯片中的测试数据，并将读取的测试数据存储在FPGA中；测试程序通过读取每块业务板上FPGA中存储的数据，获取该业务板上所有引脚电路芯片的测试数据；测试程序分析测试数据，完成对待测试芯片的测试。本发明提出的方案通过减少ATE设备在芯片测试过程中测试程序对引脚电路芯片的访问次数，进而减少对芯片的配置时间和读取时间，缩短芯片测试时间，提高芯片测试效率，且无须做硬件上的调整，只需对业务板上的FPGA进行进行设计升级。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ate 设备 芯片 测试 加速 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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