[发明专利]基于ATE设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统

说明书

本发明提出了一种基于ATE设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统。加速方法包括：选定引脚电路芯片并进行配置；引脚电路芯片采集待测芯片反馈的测试数据；在预设时间间隔，每块业务板上的FPGA并行读取该业务板上所有引脚电路芯片中的测试数据，并将读取的测试数据存储在FPGA中；测试程序通过读取每块业务板上FPGA中存储的数据，获取该业务板上所有引脚电路芯片的测试数据；测试程序分析测试数据，完成对待测试芯片的测试。本发明提出的方案通过减少ATE设备在芯片测试过程中测试程序对引脚电路芯片的访问次数，进而减少对芯片的配置时间和读取时间，缩短芯片测试时间，提高芯片测试效率，且无须做硬件上的调整，只需对业务板上的FPGA进行进行设计升级。

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，特别涉及一种基于ATE设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统。

背景技术

ATE(Automatic Test Equipment)是自动测试设备，它是一种由高性能计算机控制的测试仪器的集合体，是由测试仪和计算机组合而成的测试系统，计算机通过运行测试程序的指令来控制测试硬件。半导体芯片测试机用于检测集成电路的功能和性能的完整性，是集成电路生产制造流程中确保集成电路品质的重要设备。测试系统最基本的要求是自身保证测试功能的快速性、可靠性和稳定性。其中快速性尤为重要，如何提升芯片的测试速度是半导体测试机行业的共同课题。

现有技术中，ATE系统在芯片测试过程中，芯片测试程序会使用多块业务板协同工作，通过频繁访问业务板中多个PE(Pin Electronics)芯片上的寄存器，并读取相关数据，获取相关的测试数据，通过分析对比相关测试数据判断芯片是否测试通过。重复上述过程进行下一颗芯片的测试。传统的芯片测试方案，测试时间长，测试效率低，需要花费大量的时间成本。

由此，需要有一种更好的方案来提升芯片的测试速度。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种基于ATE设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统，具体方案如下：

一种基于ATE设备芯片测试的加速方法，应用于ATE设备中，所述ATE设备包括主控板、背板和业务板，所述主控板通过所述背板与多个所述业务板建立通信连接，所述主控板上配置有测试程序，每个所述业务板上配置有FPGA和多个引脚电路芯片；

所述加速方法包括如下：

选定每块业务板上待配置的引脚电路芯片，所述FPGA根据所述测试程序的指令同时对多个所述引脚电路芯片进行配置；

所述引脚电路芯片采集待测芯片反馈的测试数据；

在预设时间间隔，每块业务板上的FPGA并行读取该业务板上所有引脚电路芯片中的测试数据，并将读取的测试数据存储在所述FPGA中；

所述测试程序通过读取每块业务板上FPGA中存储的数据，获取该业务板上所有引脚电路芯片的测试数据；

所述测试程序分析所述测试数据，完成对待测试芯片的测试。

在一个具体实施例中，“选定每块业务板上待配置的引脚电路芯片，所述FPGA根据所述测试程序的指令同时对多个所述引脚电路芯片进行配置”具体包括：

每块业务板上的FPGA设置有PE选择寄存器、PE配置寄存器和PE接口；

所述测试程序通过每块业务板上的PE选择寄存器选择该业务板上待配置的引脚电路芯片；

通过每块业务板上的PE配置寄存器，对该业务板上被PE选择寄存器所选择的引脚电路芯片进行配置；

每块业务板上的PE接口负责接收所述测试程序发送的关于配置PE芯片的指令，使所述PE配置寄存器并行完成相应引脚电路芯片的配置。