[发明专利]一种三维非均匀化学刻蚀球型电极硅探测器在审
| 申请号: | 202111394387.X | 申请日: | 2021-11-22 |
| 公开(公告)号: | CN114005894A | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
| 发明(设计)人: | 王洪斐;李正;李鑫卿;谭泽文;蔡新毅 | 申请(专利权)人: | 鲁东大学 |
| 主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/0352;H01L31/115;H01L31/18 |
| 代理公司: | 池州优佐知识产权代理事务所(普通合伙) 34198 | 代理人: | 袁辉志 |
| 地址: | 264000 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种三维非均匀化学刻蚀球型电极硅探测器,包括基体B、A1层和A2层,所述A1层和A2层分别设置于基体B的上表面和下表面,所述A1层的边缘覆盖有O1层,所述A2层的边缘覆盖有02层,所述A1层和A2层之间设置有基体B,所述基体B的顶部设有不同半径但宽度相同的圆环柱F1‑F3,所述基体B顶部的中央悬浮有中央收集阳极FO,所述基体B的底部设有外围电极C1‑C9,且通过D连接在一起。本发明三维非均匀化学刻蚀球型电极硅探测器以其均匀的电势电场分布,没有死区,电荷收集率高等优点,可应用在光子物理实验以及较低辐照强度的科研领域。通过对三维非均匀化学刻蚀球型电极硅探测器的研究,可以使三维理想球型电极硅探测器的设想得以实现。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 三维 均匀 化学 刻蚀 电极 探测器 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





