[发明专利]抛光垫及其制备方法以及使用其的半导体器件的制造方法在审

专利信息
申请号: 202111303514.0 申请日: 2021-11-05
公开(公告)号: CN114434318A 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 许惠暎;徐章源;安宰仁;尹钟旭 申请(专利权)人: SKC索密思株式会社
主分类号: B24B37/20 分类号: B24B37/20;B24B37/24;H01L21/306;B29C44/02;B29C44/34;B29C44/38;B29C69/00;B29C69/02;B29K433/04;B29L7/00
代理公司: 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 代理人: 洪玉姬
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种抛光垫及其制备方法,其中,其能够维持在抛光工序中所需的抛光性能,如抛光速度、抛光轮廓,且能够最小化在抛光工序中发生在晶片中的缺陷,即使同时抛光不同材料的膜也能够将其抛光成具有同等水平的平坦度;在CMP工序中适用抛光垫时,无需直接进行抛光测试,即可通过抛光垫的物性值来区分抛光垫,以控制最佳抛光选择率以及抛光工序的性能。
搜索关键词: 抛光 及其 制备 方法 以及 使用 半导体器件 制造
【主权项】:
暂无信息
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