[发明专利]一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111248022.6 申请日: 2021-10-26
公开(公告)号: CN113990968A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 史欣;谭雨航;王聪聪;杨涛;张希媛;刘凯 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: H01L31/0312 分类号: H01L31/0312;H01L31/0224;H01L31/102;H01L31/18
代理公司: 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 代理人: 林聪源
地址: 100049 北京市石景*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法,包括:SiC衬底层;SiC衬底层中按预设布局垂直插设有N型欧姆接触层和P型欧姆接触层,SiC衬底层、P型欧姆接触层和N型欧姆接触层的上表面平齐;P型欧姆接触层的侧面与SiC衬底层之间设有增益层,SiC衬底层的顶部设有钝化层,P型欧姆接触层的顶部设有第一电极,N型欧姆接触层的顶部设有第二电极,第二电极与第一电极的极性相反。相较于传统的SiC探测器,本发明的SiC探测器可以增加响应信号,有效解决由于SiC本身较高的电子空穴电离能而导致的信号较小问题;同时,本发明的SiC探测器放大信号的强度远高于噪声,可以有效提高探测器的信噪比。
搜索关键词: 一种 增益 三维 插入 sic 探测器 芯片 及其 制备 方法
【主权项】:
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