[发明专利]一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法在审
申请号: | 202111248022.6 | 申请日: | 2021-10-26 |
公开(公告)号: | CN113990968A | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 史欣;谭雨航;王聪聪;杨涛;张希媛;刘凯 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | H01L31/0312 | 分类号: | H01L31/0312;H01L31/0224;H01L31/102;H01L31/18 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 林聪源 |
地址: | 100049 北京市石景*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法,包括:SiC衬底层;SiC衬底层中按预设布局垂直插设有N型欧姆接触层和P型欧姆接触层,SiC衬底层、P型欧姆接触层和N型欧姆接触层的上表面平齐;P型欧姆接触层的侧面与SiC衬底层之间设有增益层,SiC衬底层的顶部设有钝化层,P型欧姆接触层的顶部设有第一电极,N型欧姆接触层的顶部设有第二电极,第二电极与第一电极的极性相反。相较于传统的SiC探测器,本发明的SiC探测器可以增加响应信号,有效解决由于SiC本身较高的电子空穴电离能而导致的信号较小问题;同时,本发明的SiC探测器放大信号的强度远高于噪声,可以有效提高探测器的信噪比。 | ||
搜索关键词: | 一种 增益 三维 插入 sic 探测器 芯片 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的