[发明专利]一种半导体器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111189657.3 申请日: 2021-10-12
公开(公告)号: CN115966606A 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 吴旭升;李彦儒 申请(专利权)人: 广州集成电路技术研究院有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L29/08
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 车大莹;郭伟刚
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种半导体器件,包括:衬底,包括至少一个鳍结构,鳍结构包括源极/漏极区,源极/漏极区包括第一应变层和形成于第一应变层上方的第二应变层;以及至少一个栅极堆叠件,形成在衬底上方。本发明提供的半导体器件,通过在衬底上方增设第一应变层以增加鳍结构底部所受到的应力;同时,为了产生更多的应力,第一应变层采用易于鳍结构底部延伸的菱形,因而避免了现有技术中应变力分布不均匀,并且迁移率在整个鳍片之间分布不平衡的问题。
搜索关键词: 一种 半导体器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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