[发明专利]垂直型存储器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111014170.1 申请日: 2021-08-31
公开(公告)号: CN113725301A 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 刘金营 申请(专利权)人: 上海积塔半导体有限公司
主分类号: H01L29/792 分类号: H01L29/792;H01L21/336
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 卢炳琼
地址: 201306 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种垂直型存储器件及其制备方法。器件包括下逻辑单元及上逻辑单元,上逻辑单元位于下逻辑单元的上方,且与下逻辑单元接触;下逻辑单元包括基底及第一栅极结构层,基底内形成有第一源区、第一漏区及第一沟道区,第一沟道区位于第一源区和第一漏区之间,且均相邻接,第一栅极结构层位于第一沟道区的上表面;上逻辑单元包括第二源区、第二漏区、第二沟道区和第二栅极结构层,在第一栅极结构层上方依次堆叠,第二栅极结构层包括第二栅介质层及第二栅金属层,第二栅介质层绕设于第二沟道区的周向上,第二栅金属层绕设于第二栅介质层的周向上,上逻辑单元的漏极同时作为下逻辑单元的电容器。本发明可以降低动态电荷刷新时间。
搜索关键词: 垂直 存储 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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