[发明专利]一种X射线图像的缺陷检测方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202111000968.0 | 申请日： | 2021-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN113781415A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 马鸽;李国章;邹涛;李致富;赵志甲 | 申请（专利权）人： | 广州大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/32;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06T5/00;G06T7/13;G06T7/136 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 余凯欢 |
| 地址： | 510006 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线图像的缺陷检测方法、装置、设备及介质，方法包括：首先获取X射线图像；对所述X射线图像进行滤波处理，得到目标图像；对所述目标图像提取缺陷边缘特征；对所述缺陷边缘特征进行训练分类，确定缺陷检测结果；其中，所述缺陷的类型包括但不限于焊点连接有裂缝、焊点内部空洞、连接点虚焊、胶体气泡。本发明能够实现高端芯片内部缺陷的高精度智能识别，可广泛应用于集成电路检测技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 图像 缺陷 检测 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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