[发明专利]用于缺陷检测的样本收集方法、装置和设备在审
| 申请号： | 202110898260.5 | 申请日： | 2021-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN113723467A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 郭世泽;郑增强;汪九州;李丁珂;欧昌东;张胜森;沈亚非;吴川;张宇晴;杨盾;吕东东 | 申请（专利权）人： | 武汉精创电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 张凯 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了本发明提供一种用于缺陷检测的样本收集方法、装置和计算机设备，其通过获取第一检测数据，并确定与其对应的用于进行缺陷检测的目标模型；若目标模型输出的缺陷检测结果或对应的置信度满足第一类样本收集预置条件，则将第一检测数据添加至目标模型的训练样本集，训练样本集达到预设更新条件时，对目标模型进行更新，从而将筛选得到发生概率较少的缺陷样本增加至目标模型的训练样本集，进而增加目标模型对这类缺陷的判别能力，以解决现有的图像缺陷检测模型存在对于发生概率较少的缺陷的判别准确度不高的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 缺陷 检测 样本 收集 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
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