[发明专利]用于缺陷检测的样本收集方法、装置和设备在审

专利信息
申请号: 202110898260.5 申请日: 2021-08-05
公开(公告)号: CN113723467A 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 郭世泽;郑增强;汪九州;李丁珂;欧昌东;张胜森;沈亚非;吴川;张宇晴;杨盾;吕东东 申请(专利权)人: 武汉精创电子技术有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 张凯
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 用于 缺陷 检测 样本 收集 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种用于缺陷检测的样本收集方法,其特征在于,包括:

获取第一检测数据,并确定与其对应的用于进行缺陷检测的目标模型;

若所述目标模型输出的缺陷检测结果或对应的置信度满足第一类样本收集预置条件,则将所述第一检测数据添加至所述目标模型的训练样本集,所述训练样本集达到预设更新条件时,对所述目标模型进行更新。

2.如权利要求1所述的用于缺陷检测的样本收集方法,其中,所述目标模型的确认过程包括:

获取与所述第一检测数据对应的第一验证样本集,将所述第一验证样本输入多个预置模型,获得各个所述预置模型的模型评价指标值;若所述模型评价指标值达到预置阈值,则确定对应的预置模型为目标模型。

3.如权利要求2所述的用于缺陷检测的样本收集方法,其中,所述样本收集方法还包括:

第二检测数据为所述第一验证样本集的样本之一,所述多个预置模型对应于所述第二检测数据输出的缺陷检测结果存在一个或多个误判时,则将所述第二检测数据添加至各个所述预置模型的训练样本集,所述训练样本集达到预设更新条件时,对所述预置模型进行更新。

4.如权利要求1-3中任一项所述的用于缺陷检测的样本收集方法,其中,第一类样本收集预置条件包括:

所述目标模型输出的缺陷类型属于第一类缺陷类型;

和/或,所述第一检测数据为标准样本库的样本之一,所述目标模型输出的缺陷检测结果与所述标准样本库所标注的缺陷不同;

和/或,所述置信度处于预设阈值区间。

5.如权利要求4所述的用于缺陷检测的样本收集方法,其中,所述目标模型输出的缺陷类型属于第一类缺陷类型时,则将所述第一检测数据添加至所述训练样本集中与第一类缺陷类型对应的子样本集。

6.如权利要求4所述的用于缺陷检测的样本收集方法,其中,所述目标模型输出的缺陷检测结果与所述标准样本库所标注的缺陷不同时,则将所述第一检测数据添加至所述训练样本集中与所述标准样本库所标注的缺陷对应的子样本集。

7.如权利要求4所述的用于缺陷检测的样本收集方法,其中,所述置信度处于预设阈值区间时,对所述第一检测数据进行人工复判,并将所述第一检测数据添加至所述训练样本集中与人工复判结果对应的子样本集。

8.一种用于缺陷检测的样本收集装置,其特征在于,所述样本收集装置包括:

目标模型获取模块,用于获取第一检测数据,并确定与其对应的用于进行缺陷检测的目标模型;

目标模型更新模块,用于获取所述目标模型的输出数据,若所述目标模型输出的缺陷检测结果或对应的置信度满足第一类样本收集预置条件,则将所述第一检测数据添加至所述目标模型的训练样本集,所述训练样本集达到预设更新条件时,对所述目标模型进行更新。

9.如权利要求1所述的用于缺陷检测的样本收集装置,其中,所述目标模型的确认过程包括:

获取与所述第一检测数据对应的第一验证样本集,将所述第一验证样本输入多个预置模型,获得各个所述预置模型的模型评价指标值;若所述模型评价指标值达到预置阈值,则确定对应的预置模型为目标模型。

10.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序,其中所述计算机程序被所述处理器执行时,实现如权利要求1至7中任一项所述用于缺陷检测的样本收集方法的步骤。

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