[发明专利]相机盖板清洁度检测方法及检测装置有效
申请号: | 202110874757.3 | 申请日: | 2021-07-30 |
公开(公告)号: | CN113570582B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 尹睿;徐敏;张卫;金健 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路制造创新中心有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;H04N17/00;G01N21/94 |
代理公司: | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人: | 黄海霞 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种相机盖板的清洁度检测方法,包括通过具有参照盖板的相机获取第一图像、第一图像灰度平均值、第一暗角灰度平均值和第一比值;通过具有待检测盖板的相机获取第二图像、第二图像灰度平均值、第二暗角灰度平均值和第二比值,依据第一比值和第二比值获取第三比值,依据第三比值与第一阈值的比较结果判断待检测盖板是否处于脏污状态。提升了计算的像素点样本量,提高了相机盖板的清洁度检测结果的可靠性,提高了相机盖板的清洁度检测结果的可靠性和准确性。本发明检测装置包括激光装置、成像传感器和处理模块,相机盖板的清洁度检测简单。提高了相机盖板的清洁度检测结果的可靠性和准确性。 | ||
搜索关键词: | 相机 盖板 清洁 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路制造创新中心有限公司,未经上海集成电路制造创新中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110874757.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。