[发明专利]磁头的评价方法及磁头的评价装置在审
| 申请号： | 202110838075.7 | 申请日： | 2021-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN114387998A | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 首藤浩文;永泽鹤美;高岸雅幸;成田直幸;前田知幸 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/31 | 分类号： | G11B5/31 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 万利军;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供能够评价磁头的特性的磁头的评价方法及磁头的评价装置。根据实施方式，磁头的评价方法包括取得在向包括第1磁极、第2磁极、磁元件及线圈的磁头的所述线圈供给了第1交流电流且向所述磁元件供给了第2电流时从所述磁元件得到的电信号。所述磁元件设置于所述第1磁极与所述第2磁极之间，包括第1磁性层。所述评价方法包括基于所述电信号来检测以所述第1交流电流的极性反转的时刻为基准的所述磁元件的电阻的变化所需的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 磁头 评价 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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