[发明专利]磁头的评价方法及磁头的评价装置在审

专利信息
申请号: 202110838075.7 申请日: 2021-07-23
公开(公告)号: CN114387998A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 首藤浩文;永泽鹤美;高岸雅幸;成田直幸;前田知幸 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: G11B5/31 分类号: G11B5/31
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 万利军;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁头 评价 方法 装置
【说明书】:

提供能够评价磁头的特性的磁头的评价方法及磁头的评价装置。根据实施方式,磁头的评价方法包括取得在向包括第1磁极、第2磁极、磁元件及线圈的磁头的所述线圈供给了第1交流电流且向所述磁元件供给了第2电流时从所述磁元件得到的电信号。所述磁元件设置于所述第1磁极与所述第2磁极之间,包括第1磁性层。所述评价方法包括基于所述电信号来检测以所述第1交流电流的极性反转的时刻为基准的所述磁元件的电阻的变化所需的时间。

本申请以日本专利申请2020-175804(申请日2020年10月20日)为基础,根据该申请而享受优先的利益。本申请通过参照该申请而包括该申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及磁头的评价方法及磁头的评价装置。

背景技术

使用磁头来向HDD(Hard Disk Drive:硬盘驱动器)等磁记录介质记录信息。评价磁头的特性的方法及装置备受期待。

发明内容

发明所要解决的课题

本发明的实施方式提供能够评价磁头的特性的磁头的评价方法及磁头的评价装置。

用于解决课题的手段

根据本发明的实施方式,磁头的评价方法包括取得在向包括第1磁极、第2磁极、磁元件及线圈的磁头的所述线圈供给了第1交流电流且向所述磁元件供给了第2电流时从所述磁元件得到的电信号。所述磁元件设置于所述第1磁极与所述第2磁极之间,包括第1磁性层。所述评价方法包括基于所述电信号来检测以所述第1交流电流的极性反转的时刻为基准的所述磁元件的电阻的变化所需的时间。

根据上述构成的磁头的评价方法,能够提供能够评价磁头的特性的磁头的评价方法及磁头的评价装置。

附图说明

图1是例示由第1实施方式的磁头的评价装置评价的磁头的示意性剖视图。

图2是例示第1实施方式的磁头的评价装置的示意图。

图3(a)及图3(b)是例示第1实施方式的磁头的评价装置中的特性的曲线图。

图4是例示第2实施方式的磁头的评价方法的流程图。

图5(a)及图5(b)是例示通过磁头的评价装置或评价方法评价的磁头的示意性剖视图。

图6是例示实施方式的磁记录装置的示意性立体图。

图7是例示实施方式的磁记录装置的一部分的示意性立体图。

图8是例示实施方式的磁记录装置的示意性立体图。

图9(a)及图9(b)是例示实施方式的磁记录装置的一部分的示意性立体图。

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