[发明专利]磁头的评价方法及磁头的评价装置在审
申请号: | 202110838075.7 | 申请日: | 2021-07-23 |
公开(公告)号: | CN114387998A | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 首藤浩文;永泽鹤美;高岸雅幸;成田直幸;前田知幸 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | G11B5/31 | 分类号: | G11B5/31 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 万利军;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁头 评价 方法 装置 | ||
1.一种磁头的评价方法,
取得在向包括第1磁极、第2磁极、磁元件及线圈的磁头的所述线圈供给了第1交流电流且向所述磁元件供给了第2电流时从所述磁元件得到的电信号,所述磁元件设置于所述第1磁极与所述第2磁极之间,包括第1磁性层,
基于所述电信号来检测以所述第1交流电流的极性反转的时刻为基准的所述磁元件的电阻的变化所需的时间。
2.根据权利要求书1所述的磁头的评价方法,
所述第1交流电流具有第1频率,
所述电信号具有所述第1频率的2倍的第2频率。
3.根据权利要求书2所述的磁头的评价方法,
所述变化所需的所述时间的所述检测包括:
与所述第1交流电流同步地对所述电信号进行累计;及
取出所述累计的所述电信号的所述第2频率的成分。
4.根据权利要求书1所述的磁头的评价方法,
所述磁元件还包括:
第1磁极侧非磁性层,设置于所述第1磁极与所述第1磁性层之间;及
第2磁极侧非磁性层,设置于所述第1磁性层与所述第2磁极之间。
5.根据权利要求书4所述的磁头的评价方法,
在所述第1磁极侧非磁性层包含第1材料且所述第2磁极侧非磁性层包含第2材料的情况下,所述第2电流具有从所述第1磁极向所述第2磁极的第1朝向,所述第1材料包含选自由Ta、Pt、W、Ir、Mo、Cr、Tb、Mn及Ni构成的群的至少一个,所述第2材料包含选自由Cu、Ag、Au、Cr及Ru构成的群的至少一个,
在所述第1磁极侧非磁性层包含所述第2材料且所述第2磁极侧非磁性层包含所述第1材料的情况下,所述第2电流具有从所述第2磁极向所述第1磁极的第2朝向。
6.一种磁头的评价装置,具备:
第1电路,能够向包括第1磁极、第2磁极、磁元件及线圈的磁头的所述线圈供给第1交流电流,所述磁元件设置于所述第1磁极与所述第2磁极之间,包括第1磁性层;
第2电路,能够在向所述线圈供给了所述第1交流电流时向所述磁元件供给第2电流;及
第3电路,能够取得在向所述线圈供给了所述第1交流电流且向所述磁元件供给了所述第2电流时从所述磁元件得到的电信号,基于所述电信号来检测以所述第1交流电流的极性反转的时刻为基准的所述磁元件的电阻的变化所需的时间。
7.根据权利要求书6所述的磁头的评价装置,
所述第1交流电流具有第1频率,
所述电信号具有所述第1频率的2倍的第2频率。
8.根据权利要求书7所述的磁头的评价装置,
所述第3电路包括累计部,
所述累计部能够与所述第1交流电流同步地对所述电信号进行累计,取出所述累计的所述电信号的所述第2频率的成分。
9.根据权利要求书6所述的磁头的评价装置,
所述第3电路包括累计部,
所述累计部与所述第1交流电流同步地对所述电信号进行累计。
10.根据权利要求书9所述的磁头的评价装置,
所述第3电路包括直流交流重叠电路,
所述直流交流重叠电路包括:
直流交流端口,与所述磁元件电连接;
直流端口,与所述第2电路电连接;及
交流端口,能够朝向所述累计部输出所述电信号的高频成分。
11.根据权利要求书10所述的磁头的评价装置,
所述第3电路包括放大器,
所述放大器从所述交流端口取得所述高频成分,
能够将放大了所述高频成分后的信号向所述累计部输出。
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