[发明专利]片上传输线特性的测试方法、装置、电子设备和存储介质有效
| 申请号： | 202110798979.1 | 申请日： | 2021-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113590476B | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 张雷;张卫东 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F17/13 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 吴婷 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请属于电路去嵌入技术领域，尤其涉及片上传输线特性的测试方法、装置、电子设备和存储介质。首先确定插值节点和测试频点，构建两个去嵌入测试结构件，得到两个去嵌入测试结构件的散射矩阵，将散射矩阵换为传输矩阵：根据传输矩阵，得到去嵌入测试结构件左、右测试信号引脚的传输矩阵，对该传输矩阵进行处理，得到待测传输线的散射矩阵，经拟合处理，得到散射矩阵的极点‑留数模型；利用该模型得到片上传输线的性能。根据本公开的实施例，在一定数量去嵌入测试结构下，实现了传输线在长度一定变化范围之内的去嵌入，克服了传统“L‑2L”传输线去嵌入方法去嵌入效率低以及成本高的问题，极大地提高了传输线长度变化下的去嵌入效率。 | ||
| 搜索关键词： | 传输线 特性 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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