[发明专利]组件缺陷检测质量分级的方法及系统有效
申请号: | 202110762779.0 | 申请日: | 2021-07-06 |
公开(公告)号: | CN113567446B | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 刘聪;李晶;王禹;曲佳佳;何文华;李春喜 | 申请(专利权)人: | 北京东方国信科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/01 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 陈新生 |
地址: | 100102 北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种组件缺陷检测质量分级方法及系统。其方法包括:系统中的产线系统获取组件在层前阶段、层后阶段以及终检阶段的图片信息;系统中的算法模型对所述图片信息进行质量缺陷和/或外观异常的分析;根据所述分析结果,结合组件的质量判定评级规则,系统中的质量检测平台对组件进行质量判断;若在终检阶段判断存在缺陷,结合系统中复检调整平台对组件的调整结果,在系统中的质量检测平台确定组件的质量分级。本发明通过在终检阶段对组件的图片信息进一步复核调整处理,结合质量判定评级规则,对所述组件进行质量评级,MES系统根据评级结果控制产线系统,实现组件的自动化分级,提高组件质量缺陷及外观异常检测的效率及一致性。 | ||
搜索关键词: | 组件 缺陷 检测 质量 分级 方法 系统 | ||
【主权项】:
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