[发明专利]组件缺陷检测质量分级的方法及系统有效

专利信息
申请号: 202110762779.0 申请日: 2021-07-06
公开(公告)号: CN113567446B 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 刘聪;李晶;王禹;曲佳佳;何文华;李春喜 申请(专利权)人: 北京东方国信科技股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 陈新生
地址: 100102 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种组件缺陷检测质量分级方法及系统。其方法包括:系统中的产线系统获取组件在层前阶段、层后阶段以及终检阶段的图片信息;系统中的算法模型对所述图片信息进行质量缺陷和/或外观异常的分析;根据所述分析结果,结合组件的质量判定评级规则,系统中的质量检测平台对组件进行质量判断;若在终检阶段判断存在缺陷,结合系统中复检调整平台对组件的调整结果,在系统中的质量检测平台确定组件的质量分级。本发明通过在终检阶段对组件的图片信息进一步复核调整处理,结合质量判定评级规则,对所述组件进行质量评级,MES系统根据评级结果控制产线系统,实现组件的自动化分级,提高组件质量缺陷及外观异常检测的效率及一致性。
搜索关键词: 组件 缺陷 检测 质量 分级 方法 系统
【主权项】:
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