[发明专利]一种利用外加应变对物体应变位置测试装置和方法有效
| 申请号： | 202110757134.8 | 申请日： | 2021-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN113532303B | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 陈杏藩;刘一石 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用外加应变对物体应变位置测试装置和方法。光源驱动电路和光源连接，光源、光电探测器、传感光纤均连接到2×2光耦合器，传感光纤紧密缠绕在被测物体的表面；通过外加应力施加装置实现对缠绕后的传感光纤位置与探测时间之间的标定，消除了单纯依靠测量时间与光纤应力位置、物体应力位置的换算误差；建立了光纤一维坐标与被测物体表面二维坐标的关系，更精确实现了物体应变位置的测量。本发明用于包括变直径物体在内的任意的复杂表面，解决了传统直接利用曲面形状对应光纤一维长度的累计误差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 外加 应变 物体 位置 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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