[发明专利]聚合物半导体薄膜及其制备方法、气体传感器有效

专利信息
申请号: 202110720204.2 申请日: 2021-06-28
公开(公告)号: CN113429605B 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 丁士进;谭昊天;吴小晗;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学;上海集成电路制造创新中心有限公司
主分类号: C08J5/18 分类号: C08J5/18;C08G61/12;C08L65/00;C23C16/455;G01N27/00
代理公司: 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 代理人: 黄海霞
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种聚合物半导体薄膜的制备方法,包括步骤:S0:将衬底放入原子层沉积设备的反应腔体中;S1:向所述反应腔体中通入第一混合反应气体,所述第一混合反应气体包括第一前驱体;S2:向所述反应腔体中通入第二混合反应气体,所述第二混合反应气体包括第二前驱体,使所述第一前驱体与所述第二前驱体反应生成聚合物;S3:循环交替进行所述步骤S1和所述步骤S2,直至生成的聚合物半导体薄膜达到目标薄膜厚度,使得制备的聚合物半导体薄膜厚度精确可控,可以精确到纳米级别,并且即使在小于10nm的超薄厚度下,所述聚合物半导体薄膜仍然具有连续、均匀的薄膜形貌。本发明还提供一种聚合物半导体薄膜和气体传感器。
搜索关键词: 聚合物 半导体 薄膜 及其 制备 方法 气体 传感器
【主权项】:
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