[发明专利]一种快恢复二极管在审
申请号: | 202110704234.4 | 申请日: | 2021-06-24 |
公开(公告)号: | CN113437158A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 朱辉;肖秀光;吕磊;潘恒 | 申请(专利权)人: | 安徽瑞迪微电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/868 | 分类号: | H01L29/868;H01L29/06;H01L29/36 |
代理公司: | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人: | 朱顺利 |
地址: | 241002 安徽省芜湖市弋江区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种快恢复二极管,包括N型掺杂漂移区、重掺杂N型衬底区域以及位于N型掺杂漂移区与重掺杂N型衬底区域之间的N型掺杂缓冲层。N型掺杂缓冲层包括低掺杂电场缓冲层、电场终止层和反向恢复载流子存储层,低掺杂电场缓冲层与N型掺杂漂移区接触且低掺杂电场缓冲层的厚度较厚,低掺杂电场缓冲层的掺杂浓度高于N型掺杂漂移区的掺杂浓度;电场终止层位于低掺杂电场缓冲层和反向恢复载流子存储层之间,电场终止层的掺杂浓度高厚度薄,其掺杂浓度高于低掺杂电场缓冲层和反向恢复载流子存储层;反向恢复载流子存储层与所述重掺杂N型衬底区域接触,其浓度较低。本发明的快恢复二极管,可以降低器件在反向恢复时的过冲电压和软度影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 恢复 二极管 | ||
【主权项】:
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