[发明专利]一种快恢复二极管在审

专利信息
申请号: 202110704234.4 申请日: 2021-06-24
公开(公告)号: CN113437158A 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 朱辉;肖秀光;吕磊;潘恒 申请(专利权)人: 安徽瑞迪微电子有限公司
主分类号: H01L29/868 分类号: H01L29/868;H01L29/06;H01L29/36
代理公司: 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 代理人: 朱顺利
地址: 241002 安徽省芜湖市弋江区*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种快恢复二极管,包括N型掺杂漂移区、重掺杂N型衬底区域以及位于N型掺杂漂移区与重掺杂N型衬底区域之间的N型掺杂缓冲层。N型掺杂缓冲层包括低掺杂电场缓冲层、电场终止层和反向恢复载流子存储层,低掺杂电场缓冲层与N型掺杂漂移区接触且低掺杂电场缓冲层的厚度较厚,低掺杂电场缓冲层的掺杂浓度高于N型掺杂漂移区的掺杂浓度;电场终止层位于低掺杂电场缓冲层和反向恢复载流子存储层之间,电场终止层的掺杂浓度高厚度薄,其掺杂浓度高于低掺杂电场缓冲层和反向恢复载流子存储层;反向恢复载流子存储层与所述重掺杂N型衬底区域接触,其浓度较低。本发明的快恢复二极管,可以降低器件在反向恢复时的过冲电压和软度影响。
搜索关键词: 一种 恢复 二极管
【主权项】:
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