[发明专利]一种弥散条件下高温物体表面温度测量装置及方法在审
| 申请号： | 202110672172.3 | 申请日： | 2021-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN115493705A | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 孙红胜;郭靖;王加朋;邱超;张玉国;杜继东;杨海龙;吴柯萱 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01J5/12 | 分类号： | G01J5/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种弥散条件下高温物体表面温度测量装置及方法，装置包括光收集模块、分光模块、n个探测器、反演模型模块、温度获取模块和温度处理模块；光收集模块用于收集被测高温物体辐射的光，并将辐射的光入射至分光模块；分光模块用于将入射光分为n路不同波段的光，并分别投影至对应的探测器；反演模型模块用于获取被测高温物体对应的反演系数；温度获取模块用于获取n个探测器上每个像素点位置对应的辐射亮温，得到n个探测器上每个像素点位置对应的修正后的辐射亮温；温度处理模块用于获取被测高温物体的表面温度。本发明能解决现有测温方法无法满足航空航天热试验和冶金铸造生产等领域对水雾等弥散介质条件下的红外辐射测温需求的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 弥散 条件下 高温 物体 表面温度 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京振兴计量测试研究所，未经北京振兴计量测试研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110672172.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：被动矩阵式显示装置及其制作方法
- 下一篇：一种合成On-DNA芳香叔胺的方法
