[发明专利]一种3D叠层封装器件的无损返修装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110663134.1 申请日: 2021-06-15
公开(公告)号: CN113319396A 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 栗凡;屈云鹏;党荣辉 申请(专利权)人: 西安微电子技术研究所
主分类号: B23K3/02 分类号: B23K3/02;B23K3/08
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 李红霖
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种3D叠层封装器件的无损返修装置及方法,属于元器件返修领域,根据器件的尺寸制作提绳,将提绳穿入器件底部,以便后期在解焊时提取分离器件;在器件两侧引线平面平铺均热块,使用加热台对待解焊器件背面的印制件部位进行预热,采用温控电热吹对器件无引线两端进行预热,使用两把刀型烙铁头在器件引线两端同时进行加热,待两端引线上的焊锡均融化后,提棉质提绳轻轻取下3D叠层封装器件。本发明方法是在低温条件下不损坏器件外部、内部结构的无损拆卸3D叠层封装器件工艺方法,使用此方法返修的器件均可实现重复使用和不破坏器件内部结构,降低了3D叠层封装器件的报废率,节省了产品生产和返修成本。
搜索关键词: 一种 封装 器件 无损 返修 装置 方法
【主权项】:
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