[发明专利]一种3D叠层封装器件的无损返修装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110663134.1 申请日: 2021-06-15
公开(公告)号: CN113319396A 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 栗凡;屈云鹏;党荣辉 申请(专利权)人: 西安微电子技术研究所
主分类号: B23K3/02 分类号: B23K3/02;B23K3/08
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 李红霖
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 封装 器件 无损 返修 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种3D叠层封装器件的无损返修装置及方法,属于元器件返修领域,根据器件的尺寸制作提绳,将提绳穿入器件底部,以便后期在解焊时提取分离器件;在器件两侧引线平面平铺均热块,使用加热台对待解焊器件背面的印制件部位进行预热,采用温控电热吹对器件无引线两端进行预热,使用两把刀型烙铁头在器件引线两端同时进行加热,待两端引线上的焊锡均融化后,提棉质提绳轻轻取下3D叠层封装器件。本发明方法是在低温条件下不损坏器件外部、内部结构的无损拆卸3D叠层封装器件工艺方法,使用此方法返修的器件均可实现重复使用和不破坏器件内部结构,降低了3D叠层封装器件的报废率,节省了产品生产和返修成本。

技术领域

本发明属于元器件返修领域,涉及一种3D叠层封装器件的无损返修装置及方法。

背景技术

3D叠层封装器件是目前航天产品实现高密度、小型化、大容量存储的核心关键器件,广泛应用于各类具有存储功能的单机上。然而航天电子产品在试验、使用过程中大量存在返修、更换的情况,此过程中通常需对下机元器件完好性进行保证进行失效分析。由于此类封装器件外壳材料不耐高温的特殊性,且对焊接、返修温度条件较为敏感,按照传统返修工艺操作效率低、器件报废率在98%以上。

发明内容

为了克服上述现有技术中,传统返修工艺操作效率低、器件报废率在98%以上的缺点,本发明的目的在于提供一种3D叠层封装器件的无损返修装置及方法。

为了达到上述目的,本发明采用以下技术方案予以实现:

一种3D叠层封装器件的无损返修装置,包括烙铁头、均热块、提绳和印制板;

3D叠层封装器件水平设置,烙铁头设有两个,两个烙铁头分别安装在3D叠层封装器件上引线的两端;均热块设有两个,两个均热块分别安装在3D叠层封装器件的两侧;提绳穿入3D叠层封装器件内,印制板安装在3D叠层封装器件的底部。

优选地,所述烙铁头为刀型烙铁头。

优选地,所述均热块的形状长方形;

均热块的宽度2mm,长度与3D叠层封装器件的长度相同。

优选地,提绳的直径为Φ0.3~Φ0.5,提拉长度为60mm~80mm。

优选地,均热块由蜂窝状吸锡绳制作而成。

一种基于所述3D叠层封装器件的无损返修装置的返修方法,包括如下步骤:

步骤1)将待解焊的3D叠层封装器件置于印制板上,根据3D叠层封装器件制作提绳,并将制作好的提绳穿入待解焊的3D叠层封装器件的底部;

步骤2)在待解焊的3D叠层封装器件的两侧分别平铺一个均热块,在3D叠层封装器件上引线的两端分别安装烙铁头;

步骤3)打开均热块开始工作,之后对待解焊的3D叠层封装器件背面的印制部位进行预热,对待解焊的3D叠层封装器件上无引线的两端进行预热,打开烙铁头进行工作,对待解焊的3D叠层封装器件上引线的两端同时进行加热,直至两端引线上的焊锡均融化后,提拉提绳,取下解焊后的3D叠层封装器件。

优选地,步骤1)中,将待解焊的3D叠层封装器件置于印制板上之前,首先对3D叠层封装器件进行热隔离。

优选地,步骤3)中,3D叠层封装器件背面的印制部位的预热是通过加热台进行的;

3D叠层封装器件上无引线的两端的预热采用温控电热吹进行。

优选地,均热块的具体制备方法如下:根据3D叠层封装器件的尺寸裁剪一定长度的蜂窝状吸锡绳,在吸锡绳上覆盖焊锡进行定形。

与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:

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