[发明专利]上颌腭部容积测量方法、测量系统、电子设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110618467.2 申请日: 2021-06-03
公开(公告)号: CN113487667B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 裴涛;麦浩明;白雪芹;马立欧;张瑞;郑婷婷;张添文;张寒雨 申请(专利权)人: 北京大学深圳医院
主分类号: G06T7/62 分类号: G06T7/62
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 黄广龙
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种上颌腭部容积测量方法、测量系统、电子设备及存储介质,其中,上颌腭部测量方法包括:构建数字化牙科模型,对数字化牙科模型中的牙齿定点,以得到多个结点;标记双侧腭小凹前缘连线中点,以得到起始结点;根据多个结点和起始结点,构建首尾相连的腭部边缘最短路径;根据矢状平面将腭部边缘最短路径分为第一路径和第二路径;将第一路径上的结点投影至第二路径,以得到第一结点集,将第二路径上的点投影至第一路径,以得到第二结点集;根据第一结点集和第二结点集的结点构建容积测量体并计算,以得到腭部容积。本发明的上颌腭部容积测量方法,能够提高腭部容积测量的准确性和可重复性。
搜索关键词: 上颌 容积 测量方法 测量 系统 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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