[发明专利]OCT测量装置以及OCT测量方法在审
| 申请号： | 202110596903.0 | 申请日： | 2021-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN113758412A | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 武智洋平;横山润 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02;G01J9/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 韩丁 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种OCT测量装置以及OCT测量方法。OCT测量装置(1)具备：波长扫描光源(2)，发出波长被扫描的光；光干涉仪(9)，将光分割为测定光(18)和参照光(19)，生成表示将测定光(18)向被测定物(20)的被测定面(21)照射并由被测定面(21)反射的测定光(18)与参照光(19)的干涉的强度的光干涉强度信号；相位调制部(17)，被配置于光干涉仪(9)的光路中；信号生成部(3)，基于光干涉强度信号，导出被测定面(21)的位置，并且生成指示相位调制部(17)的相位量的相位量指示信号；和相位量控制部(6)，基于相位量指示信号，控制对透射相位调制部(17)的光赋予的相位量。 | ||
| 搜索关键词： | oct 测量 装置 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
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