[发明专利]一种半导体发光板的检测平台在审
申请号: | 202110565376.7 | 申请日: | 2021-05-24 |
公开(公告)号: | CN113433351A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 吴高峰 | 申请(专利权)人: | 吴高峰 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 314400 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体发光板的检测平台,其结构包括支撑架、机体、控制面板、检测台,机体和检测台底面焊接在支撑架顶部,由于旋转板上方的发光板受到旋转板的甩力作用位置发生偏移,出现发光板脱离旋转板上表面而掉落在检测台的内底部,通过保护机构的推杆将发光板推动复位,能够对发光板保护,减少发光板受到旋转板的甩力脱离旋转板表面,减少发光板损坏,有利于发光板正常使用,由于旋转板与保护机构之间存在间隙,易出现发光板卡在间隙中的现象,通过在旋转板内部设有扩张板,扩张板受到离心力作用扩张与保护机构底部接触,能够减小旋转板与保护机构之间的间隙,减少发光板卡在间隙中,能够加快旋转板的转动速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 光板 检测 平台 | ||
【主权项】:
暂无信息
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