[发明专利]一种半导体发光板的检测平台

权利要求书

1.一种半导体发光板的检测平台，其结构包括支撑架(1)、机体(2)、控制面板(3)、检测台(4)，所述机体(2)和检测台(4)底面焊接在支撑架(1)顶部，所述控制面板(3)设置在机体(2)上表面，所述检测台(4)位于机体(2)右侧，其特征在于：

所述检测台(4)包括台体(41)、电机(42)、旋转板(43)、检测器(44)、保护机构(45)，所述电机(42)设置在台体(41)内底部中心位置，所述旋转板(43)底面中部与电机(42)顶端活动配合，所述检测器(44)位于旋转板(43)上方，所述保护机构(45)安装在台体(41)中部内壁，且处于旋转板(43)上方。

2.根据权利要求1所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述保护机构(45)包括支撑环(451)、开口(452)、缓冲板(453)、推杆(454)，所述开口(452)贯穿支撑环(451)内侧面及内壁之间，所述缓冲板(453)嵌套在支撑环(451)内侧表面，所述推杆(454)内端套在开口(452)内部。

3.根据权利要求2所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述开口(452)包括套管(52a)、伸缩块(52b)、限位杆(52c)，所述伸缩块(52b)分别安装在套管(52a)中上位置两侧内壁，所述限位杆(52c)底端固定在伸缩块(52b)上表面。

4.根据权利要求2所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述推杆(454)包括伸缩杆(54a)、支撑球(54b)、限位槽(54c)、缓冲块(54d)，所述支撑球(54b)中部嵌固在伸缩杆(54a)底端，所述限位槽(54c)分别由外往内凹陷在支撑球(54b)两侧表面，所述缓冲块(54d)上表面与支撑球(54b)底面相连接。

5.根据权利要求4所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述缓冲块(54d)包括支撑块(d1)、底槽(d2)、反弹条(d3)、反推板(d4)，所述底槽(d2)凹陷在支撑块(d1)底面，所述反弹条(d3)顶端固定在底槽(d2)内顶部，所述反推板(d4)上表面与反弹条(d3)底端相连接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述旋转板(43)包括支板(431)、内腔(432)、支撑条(433)、扩张板(434)，所述内腔(432)由外往内开设在支板(431)外侧表面，所述支撑条(433)内端与内腔(432)内壁相连接，所述扩张板(434)内侧表面与支撑条(433)外端活动配合。

7.根据权利要求6所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述扩张板(434)包括支撑板(34a)、配合板(34b)、滑动槽(34c)、滑动球(34d)，所述配合板(34b)左侧面固定在支撑板(34a)右侧面，所述滑动槽(34c)设置在支撑板(34a)内部，所述滑动球(34d)放置在滑动槽(34c)内部。

8.根据权利要求7所述的一种半导体发光板的检测平台，其特征在于：所述配合板(34b)包括伸缩板(b1)、连接板(b2)、转动环(b3)，所述连接板(b2)左侧面与伸缩板(b1)右侧面连为一体，所述转动环(b3)与连接板(b2)右侧面铰链连接。