[发明专利]反射面和具有该反射面的紧缩场测量系统在审
| 申请号： | 202110561491.7 | 申请日： | 2021-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN113109635A | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 张辉彬;刘列;张颖 | 申请（专利权）人： | 深圳市通用测试系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市宝安区航*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种反射面，包括反射面本体，用于反射电磁波；半导体部，与反射面本体的边缘相连并向外延伸；电磁波吸收部，与半导体部相连并向外延伸，电磁波吸收部采用吸波材料。本公开还提供了一种具有该反射面的紧缩场测量系统。本公开将反射面本体的边缘电流传导至半导体部，通过半导体部以及与之相连的电磁波吸收部对这部分电磁能量进行吸收和损耗，从而降低反射面边缘的绕射效应，改善静区性能。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 具有 紧缩 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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