[发明专利]反射面和具有该反射面的紧缩场测量系统

说明书

本公开提供了一种反射面，包括反射面本体，用于反射电磁波；半导体部，与反射面本体的边缘相连并向外延伸；电磁波吸收部，与半导体部相连并向外延伸，电磁波吸收部采用吸波材料。本公开还提供了一种具有该反射面的紧缩场测量系统。本公开将反射面本体的边缘电流传导至半导体部，通过半导体部以及与之相连的电磁波吸收部对这部分电磁能量进行吸收和损耗，从而降低反射面边缘的绕射效应，改善静区性能。

技术领域

本发明涉及紧缩场测量领域，尤其涉及一种反射面和具有该反射面的紧缩场测量系统。

背景技术

紧缩场测量系统通过透镜或反射面将馈源天线发射的球面波转换为平面波，在较小空间内模拟远场的平面波电磁环境，即静区范围内幅度和相位的变化满足天线测量对平面波照射环境的要求。若反射面为无限大的抛物面，馈源天线发射的球面电磁波理论上可以完全被转化为平面波并反射到测量区域中。但实际应用中反射面的尺寸有限，来自反射面边缘的绕射效应会引起非平面波的出现，这将降低静区范围内的测量精度。

相关技术中通过将反射面的边缘设为锯齿形结构或将反射面的边缘进行卷边处理来解决这个问题，这两类边缘结构能够将照射到反射面边缘的能量引导离开测量区域。

发明内容

本公开描述了一种反射面和具有该反射面的紧缩场测量系统。

根据本公开的实施例的第一方面，提供一种反射面，包括：反射面本体，用于反射电磁波；半导体部，与反射面本体的边缘相连并向外延伸；以及，电磁波吸收部，与半导体部相连并向外延伸，电磁波吸收部采用吸波材料。

根据反射面的一个实施例，半导体部与反射面本体的边缘的侧面相连，或者，半导体部与反射面本体的边缘的工作面相连，工作面是反射面本体用于反射电磁波的那一面。

根据反射面的一个实施例，半导体部与反射面本体的边缘平滑连接，电磁波吸收部与半导体部平滑连接。

根据反射面的一个实施例，电磁波吸收部的长度为电磁波的波长的0.5～5倍。

根据反射面的一个实施例，半导体部与反射面本体的边缘相连的部分的电阻值小于半导体部向外延伸的末端部分的电阻值。

根据反射面的一个实施例，电磁波吸收部在向外延伸的方向上具有阻抗渐变结构。

根据反射面的一个实施例，阻抗渐变结构为：电磁波吸收部向外延伸的末端形成至少一个锯齿形。

根据反射面的一个实施例，反射面本体的边缘为锯齿形。

根据本公开的实施例的第二方面，提供一种紧缩场测量系统，包括：电波暗室，馈源天线，以及前述的反射面。

根据紧缩场测量系统的一个实施例，反射面的电磁波吸收部向外延伸至电波暗室的侧壁。

本公开实施例的反射面中，将反射面本体的边缘电流传导至半导体部，通过半导体部以及与之相连的电磁波吸收部对这部分电磁能量进行吸收和损耗，从而降低反射面边缘的绕射效应，改善静区性能。

附图说明

图1a示意了本公开根据一个实施例的反射面的正视图。

图1b示意了本公开根据一个实施例的反射面的正视图。

图2a示意了本公开根据一个实施例的反射面的局部横剖视图。

图2b示意了本公开根据一个实施例的反射面的局部横剖视图。

图3a示意了本公开根据一个实施例的反射面的局部横剖视图。

图3b示意了本公开根据一个实施例的反射面的局部横剖视图。

图3c示意了本公开根据一个实施例的反射面的局部横剖视图。