[发明专利]功率半导体器件有效

专利信息
申请号: 202110526994.0 申请日: 2021-05-14
公开(公告)号: CN113192925B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 陈超;张海泉;麻长胜;王晓宝;赵善麒 申请(专利权)人: 江苏宏微科技股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L25/07
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 陈红桥
地址: 213022 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种功率半导体器件,包括:覆金属绝缘陶瓷衬底,上层和下层分别为第一导电金属层和第二导电金属层,中间层为陶瓷层,第一导电金属层上设置有上桥臂单元和下桥臂单元;多个SiC MOSFET芯片,焊接在第一导电金属层,其中,上桥臂单元上配置的SiC MOSFET芯片的数量与下桥臂单元上配置的SiC MOSFET芯片的数量相同;第一功率金属箔片,内部设置有第一信号金属箔片,下桥臂单元上配置的SiC MOSFET芯片的栅极信号的第一金属线均汇集在第一信号金属箔片内,并且紧密排布;第二功率金属箔片,内部设置有第二信号金属箔片,上桥臂单元上配置的SiC MOSFET芯片的栅极信号的第二金属线均汇集在第二信号金属箔片内,并且紧密排布。由此,能够使得内部驱动回路杂散参数一致。
搜索关键词: 功率 半导体器件
【主权项】:
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