[发明专利]光电探测晶体管及其制造方法及相应的光电探测方法有效
申请号: | 202110521681.6 | 申请日: | 2021-05-13 |
公开(公告)号: | CN113421942B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 张盛东;周晓梁;廖聪维;范昌辉;林清平;严建花;李建桦 | 申请(专利权)人: | 北京大学深圳研究生院 |
主分类号: | H01L31/113 | 分类号: | H01L31/113;H01L31/119;H01L31/032;H01L31/18;G01J1/42 |
代理公司: | 北京祯新珵艺知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 16110 | 代理人: | 沈超 |
地址: | 518071 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请提供了一种光电探测晶体管,包括逐层堆叠的衬底、底栅电极、底栅介质层、有源层、顶栅介质层、和顶栅电极;其中所述有源层包括具有光记忆功能的半导体材料,在所述有源层中包括沟道和源漏区域,并且所述光电探测晶体管的顶栅电极采用透明导电材料;其中所述源漏区域是通过对相应区域的所述有源层材料进行等离子体处理获得。本申请还公开了相应的制备光电探测晶体管和利用其感光的方法。 | ||
搜索关键词: | 光电 探测 晶体管 及其 制造 方法 相应 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的